常用的K型熱電偶在測量電感這些磁性元件時(shí)，會(huì)發(fā)生同一個(gè)元件其不同點(diǎn)溫度超過50℃甚至100℃的情況，這明顯不合理。在這種情況下，除了接觸點(diǎn)的不同，探頭的位置，剩下的就是磁場的影響了。

但是目前只有一些零星的資料證明磁場的渦流效應(yīng)會(huì)對(duì)熱電偶的溫度測試帶來很大影響，比如這個(gè)論文，結(jié)論得出：

1) 熱電偶在高頻磁場環(huán)境測溫時(shí)， 存在很大的測溫誤差， 即使在毫特級(jí)高頻磁場環(huán)境下， 也可能造成超過100 ℃的測量誤差。
2) 高頻磁場環(huán)境下， 渦流損耗引起熱電偶合金偶絲端部額外溫升， 造成熱電偶高頻磁場測溫值偏離實(shí)際測溫點(diǎn)溫度。

 

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